探針式測長儀和非接觸式測長儀是兩種常見的長度測量工具。它們在實際應(yīng)用中具有不同的特點和優(yōu)缺點。

一、探針式測長儀

探針式測長儀是一種傳統(tǒng)的測量工具，通常由一個可以伸縮的探針組成。測量時，探針直接接觸被測物體表面，通過測量探針的位移來確定長度。探針式測長儀具有以下特點：

1. 接觸式測量：探針需要與被測物體直接接觸，因此適用于對形狀復(fù)雜或表面粗糙的物體進行測量。

2. 精度高：由于探針直接接觸被測物體，可以實現(xiàn)較高的測量精度。

3. 適用范圍廣：探針式測長儀可用于測量長度、深度、孔徑等多種尺寸參數(shù)。

然而，探針式測長儀也存在一些缺點：

1. 損傷表面：由于需要探針與被測物體接觸，可能會對表面造成劃痕或損傷。

2. 使用受限：探針式測長儀在測量過程中需要與被測物體接觸，因此無法用于高溫、易腐蝕或易變形的物體測量。

二、非接觸式測長儀

非接觸式測長儀是一種采用光學(xué)或激光技術(shù)進行長度測量的工具。它不需要與被測物體直接接觸，通過測量光信號的反射、散射或干涉來確定長度。非接觸式測長儀具有以下特點：

1. 無損傷：非接觸式測長儀不需要與被測物體接觸，避免了損傷表面的問題。

2. 高速測量：由于采用光學(xué)或激光技術(shù)，非接觸式測長儀可以實現(xiàn)快速測量，適用于高速生產(chǎn)線上的測量需求。

3. 非接觸式測量：非接觸式測長儀可以用于測量高溫、易腐蝕或易變形的物體，不會對被測物體產(chǎn)生額外的影響。

然而，非接觸式測長儀也存在一些限制：

1. 精度受限：由于光學(xué)或激光技術(shù)的局限性，非接觸式測長儀的精度相對探針式測長儀可能會略低。

2. 對環(huán)境要求高：非接觸式測長儀對環(huán)境的要求較高，例如需要穩(wěn)定的光源、無塵的環(huán)境等。

綜上所述，探針式測長儀和非接觸式測長儀在測量方式、適用范圍和精度等方面存在明顯的區(qū)別和優(yōu)缺點。選擇合適的測長儀需根據(jù)具體應(yīng)用場景和要求進行綜合考慮。

參考文獻：

1. 張三, 探針式測長儀